一、 概況
    環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗能可靠、持續(xù)地得到實施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設(shè)備，而要達到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標準，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標準。
我國的環(huán)境試驗設(shè)備標準（以下簡稱“設(shè)備標準”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準（以下簡稱“方法標準”）起草、發(fā)布、實施于二十世紀八十年代中期。為使該兩類標準能得到更好地貫徹執(zhí)行，下面將我們在貫徹實施兩類標準時的若干問題極其看法提出，以期同行引起注意，并求不吝賜孝，取得一致見地，將本行業(yè)的工作做好。

二、 環(huán)境試驗設(shè)備標準
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標準共有九項：
GB10586-89 濕熱試驗箱 技術(shù)條件
GB10587-89 鹽霧試驗箱 技術(shù)條件
GB10588-89 長霉試驗箱 技術(shù)條件
GB10589-89 低溫試驗箱 技術(shù)條件
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件
GB10592-89 高、低溫試驗箱 技術(shù)條件
GB11158-89 高溫試驗箱 技術(shù)條件
GB11159-89 低氣壓試驗箱 技術(shù)條件
2、設(shè)備標準中的共性問題
1）適用范圍
在上述的九項標準中都明確規(guī)定了本標準適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家，對該標準所對應的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。
2）適應性
按設(shè)備標準檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應的環(huán)境試驗方法標準中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
3）操作性
設(shè)備標準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標準在設(shè)備制造廠也應用較多。
4）修訂設(shè)備標準的不足之處
九項設(shè)備標準起草于上世紀八十年代，隨著科學技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標準是必須的。

3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項
1）對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項
A）溫度：15℃~35℃
B）相對濕度：不大于85%RH
C）大氣壓強：86Kpa~106Kpa
D）熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射
E）氣流：無強烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上
F）電磁場：無強烈電磁場
G）三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
H）冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa
I）加濕水源：電阻率不低于500Ωm
J）電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz
2）負載要求：
A）負載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等（鹽霧試驗除外）
B）負載條件：
－－－－－－-負載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
－－－－－－-負載總體積：不大于工作室容積的1/5
－－－－－－-阻擋主風道總面積：不大于主風道所處工作室截面積的1/3
－－－－－－-鹽霧試驗設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊（1~2）mm
－－－－－－-種類：金屬
－－－－－－-樣品數(shù)：160塊/m2（工作室水平面面積計）

三、 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準（氣候試驗設(shè)備）
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準共有六項：
GB/T5170.2－－－－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5－－－－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8－－－－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9－－－－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T5170.10－－-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T5170.11－－-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
2、方法標準的幾個共同問題
1）標準適用范圍：在六項方法標準中明確規(guī)定了該類標準是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定時檢定項目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
2）適應性：按方法標準檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。
3）操作性：本類標準在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應用居多，試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應用為少。
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點：
1）各分標準使用時應與總則一起使用。
2）對于復合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標準及總則一起使用
3）檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標準相一致。
4）負載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標準GB11158中規(guī)定保持一致。

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